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SJ/T 11394-2009 半导体发光二级管测试方法
标准号 SJ/T 11394-2009     登录可关注该标准
中文名称 半导体发光二级管测试方法
英文名称 Measure methods of semiconductor linght emitting diodes
发布日期 2009-11-17
实施日期 2010-01-01
复审日期 2017-05-12
起草单位 中国光学光电子行业协会光电器件分会
归口单位 工业和信息化部电子工业标准化研究所
中国标准分类 L45
国际标准分类 ICS 31.260
标准状态 标准的状态、替代、引用关系等信息只对网员开放,请登录
摘要 本标准规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。
适用范围 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管、紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
页数 30
全文上线日期 2010-03-10
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