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ASTM F1893-2011 测量半导体器件电离剂量率存活性和烧断的指南
标准号 ASTM F1893-2011     登录可关注该标准
中文名称 测量半导体器件电离剂量率存活性和烧断的指南
英文名称 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
发布日期 2011-01-01
工作组 F01.11
中国标准分类 L40
国际标准分类 31.080.01 (Semi-conductor devices in gen
本标准中的术语
页数 7


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